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Scanning Near-Field Optical Microscopy In Basel, Ruschlikon, And Zurich

1995
Journal Articles

Résumé

The concepts of near-field optical microscopy and experimental and theoretical work carried out in Switzerland over the last 10 years are reviewed. After a description of the pioneering experiments of the mid-1980s, we focus on the recent efforts of the three Swiss laboratories currently working in the field in close collaboration. This newly refreshed initiative in near-field optics is supported by the Swiss Priority Program Optique.

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Concepts associés (22)

Microscope optique en champ proche

Le microscope optique en champ proche (MOCP, ou SNOM pour scanning near-field optical microscope ou NSOM pour near-field scanning optical microscopy) ou microscope optique à sonde locale (MOSL) est un type de microscope à sonde locale qui permet d'imager des objets à partir de la détection des ondes évanescentes confinées au voisinage de leur surface (détection en champ proche optique). Le MOCP permet de compenser la diffraction, une des limitations de la microscopie optique.

Microscope optique

Le microscope optique ou microscope photonique est un instrument d'optique muni d'un objectif et d'un oculaire qui permet de grossir l'image d'un objet de petites dimensions (ce qui caractérise sa puissance optique) et de séparer les détails de cette image (et son pouvoir de résolution) afin qu'il soit observable par l'œil humain. Il est utilisé en biologie, pour observer les cellules, les tissus, en pétrographie pour reconnaître les roches, en métallurgie et en métallographie pour examiner la structure d'un métal ou d'un alliage.

Microscopie à super-résolution

La microscopie à super-résolution est un ensemble de techniques permettant d'imager en microscopie optique des objets à une résolution à l’échelle nanométrique. Elle se démarque par le fait que la résolution obtenue n'est plus limitée par le phénomène de diffraction. Du fait de la diffraction de la lumière, la résolution d’un microscope optique conventionnel est en principe limitée, indépendamment du capteur utilisé et des aberrations ou imperfections des lentilles.

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Revisiting PSF models: theory and implementation

Assessing the electric field sensitivity measured by pixelated differential phase contrast imaging in vacuum both in the absence of external fields and under field-bound conditions

Scanning probe microscope