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We demonstrate ultra-low propagation loss, lithographic precision, and wafer-scale manufacturing for high-density Si3N4 photonic integrated circuits using an efficient DUV-based subtractive approach. We show a propagation loss as low as 1.4 dB/m at 1.55 µm.
Elyahou Kapon, Alok Rudra, Benjamin Dwir, Alessio Massimiliano Davide Miranda