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Material Parameter Extraction for Complex AlScN Thin Film Using Dual Mode Resonators in Combination with Advanced Microstructural Analysis and Finite Element Modeling

Paul Muralt, Thomas La Grange, Vladimir Pashchenko, Fazel Parsapour, Silviu Cosmin Sandu

Accurate property determination of the piezoelectric thin film material Al(1-x)Sc(x)N is necessary for designing the next generation of radio frequency resonators in mobile communication, and for testing results of ab initio calculations. Sound velocity an ...

WILEY2019

Ex-situ AlN seed layer for (0001)-textured Al0.84Sc0.16N thin films grown on SiO2 substrates

Paul Muralt, Silviu Cosmin Sandu, Stefan Mertin, Fazel Parsapour, Vladimir Pashchenko

It is more difficult to nucleate AlN-ScN alloy thin films (AlScN) in pure (0001)-texture than it is with pure AlN thin films. AlN thus can serve as seed layer for AlScN. Equipment limitations may lead to the problem of a vacuum break between AlN and AlScN ...

Ieee2017

Effective SAW excitation on non-piezoelectric substrate using AlScN piezoelectric thin film BAW/SAW hybrid transducer

Paul Muralt, Fazel Parsapour, Vladimir Pashchenko

Acoustic delay lines based on Al0.85Sc0.15N thin film hybrid transducers were investigated by finite element modeling. It was found that an acoustic impedance matching between transducer and non-piezoelectric substrate material plays a crucial role to effi ...

Ieee2017