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Préparation des échantillons pour SEM

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Description

Cette séance de cours d'Aurélie Favier couvre la préparation de sections polies pour la microscopie électronique à balayage, en mettant l'accent sur l'arrêt de l'hydratation par échange de solvant. Le procédé comprend le sciage de l'échantillon, l'immersion dans l'isopropanol, le séchage, le revêtement de résine, le polissage avec du papier de verre et des particules de diamant et l'application d'une couche de carbone conductrice.

Dans MOOC

Chimie du ciment et matériaux cimentaires durables

Nous connaissons tous le béton utilisé pour construire nos maisons, nos bureaux, nos écoles ou nos ponts, mais savez-vous pourquoi le béton résiste ? L'objectif de ce cours est d'offrir des connaissances solides sur la chimie du ciment aux praticiens ou aux nouveaux étudiants dans ce domaine. Il n'est donc pas nécessaire d'avoir des connaissances en matière de ciment, mais des notions de base en chimie, physique et cristallographie peuvent être utiles. Ce cours dure 6 semaines pendant lesquelles vous pouv

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Concepts associés (17)

Microscopie électronique à balayage

thumb|right|Premier microscope électronique à balayage par M von Ardenne thumb|right|Microscope électronique à balayage JEOL JSM-6340F thumb|upright=1.5|Principe de fonctionnement du Microscope Électronique à Balayage La microscopie électronique à balayage (MEB) ou scanning electron microscope (SEM) en anglais est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière.

Microscope électronique

thumb|Microscope électronique construit par Ernst Ruska en 1933.thumb|Collection de microscopes électroniques anciens (National Museum of Health & Medicine). Un microscope électronique (ME) est un type de microscope qui utilise un faisceau d'électrons pour illuminer un échantillon et en créer une très agrandie. Il est inventé en 1931 par des ingénieurs allemands. Les microscopes électroniques ont un pouvoir de résolution supérieur aux microscopes optiques qui utilisent des rayonnements électromagnétiques visibles.

Microscopie électronique en transmission

vignette|upright=1.5|Principe de fonctionnement du microscope électronique en transmission. vignette|Un microscope électronique en transmission (1976). La microscopie électronique en transmission (MET, ou TEM pour l'anglais transmission electron microscopy) est une technique de microscopie où un faisceau d'électrons est « transmis » à travers un échantillon très mince. Les effets d'interaction entre les électrons et l'échantillon donnent naissance à une image, dont la résolution peut atteindre 0,08 nanomètre (voire ).

Microscope à effet tunnel

thumb|Atomes de silicium à la surface d'un cristal de carbure de silicium (SiC). Image obtenue à l'aide d'un STM. Le microscope à effet tunnel (en anglais, scanning tunneling microscope, STM) est inventé en 1981 par des chercheurs d'IBM, Gerd Binnig et Heinrich Rohrer, qui reçurent le prix Nobel de physique pour cette invention en 1986. C'est un microscope en champ proche qui utilise un phénomène quantique, l'effet tunnel, pour déterminer la morphologie et la densité d'états électroniques de surfaces conductrices ou semi-conductrices avec une résolution spatiale pouvant être égale ou inférieure à la taille des atomes.

Microscopie à sonde locale

La microscopie à sonde locale (MSL) ou microscopie en champ proche (MCP) ou scanning probe microscopy (SPM) en anglais est une technique de microscopie permettant de cartographier le relief (nano-topographie) ou une autre grandeur physique en balayant la surface à imager à l'aide d'une pointe très fine (la pointe est idéalement un cône se terminant par un seul atome). Le pouvoir de résolution obtenu par cette technique permet d'observer jusqu'à des atomes, ce qui est physiquement impossible avec un microscope optique, quel que soit son grossissement.

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Microscopie électronique de transmission de base Connectez-vous à Mediaspace pour regarder cette vidéo

Présente les bases de la microscopie électronique de transmission, couvrant l'interface utilisateur TEM, les paramètres de la caméra, la vue d'ensemble du vide et l'analyse d'images.

Microscopie électronique à balayage

Explore les principes de la microscopie électronique à balayage, les contrastes de signaux, les facteurs de résolution et les interactions d'échantillons.

Vérification de la qualité de la couche de sondes

Couvre l'évaluation de la qualité des couches de sondes à l'aide du miroir résonnant, de la résonance de Plasmon de surface et de la microscopie électronique à balayage.

SEM Basics: Introduction à la microscopie électronique

Introduit les bases de la microscopie électronique à balayage, couvrant les sources d'électrons, les lentilles, le système de vide et les détecteurs.

Microscopie électronique à balayage : notions de base

Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les interactions électron-échantillon, les détecteurs, la préparation des échantillons, la formation d'images, la résolution et les contrastes dans les images SEM.

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