Compare les neutrons et les rayons X dans l'analyse de diffraction, en se concentrant sur leurs niveaux d'énergie, leurs mécanismes d'interaction et leurs capacités de pénétration.
Explore les applications de la focalisation micron et submicron, de la cristallographie et des reconstructions tomographiques dans les lignes de faisceaux, ainsi que la nécessité d'optique secondaire et de différents types de lentilles.
Discute des propriétés, de la sensibilité et du rapport signal-bruit des détecteurs de rayons X, ainsi que des erreurs systématiques comme les corrections de champ plat.
Couvre la microanalyse par rayons X à dispersion d'énergie, expliquant comment les rayons X révèlent la composition élémentaire et discutant de la génération, de la détection, de l'efficacité et de la quantification des rayons X.
Explore les principes de la tomographie par rayons X, y compris la génération, l'interaction avec la matière, les méthodes de détection et des exemples pratiques.
Explore la spectroscopie à rayons X dispersive (EDS) en microscopie électronique, couvrant la génération de rayons X, la détection, la quantification et la cartographie des éléments dans les échantillons.
Couvre la microanalyse de rayons X à dispersion d'énergie, explorant la génération, la détection, la quantification et les défis de rayons X dans l'analyse élémentaire précise.
Explore la perspective historique, les propriétés et les applications des rayons X, y compris la diffraction, la résolution atomique et les couleurs spectrales des éléments.