Explore l'analyse physique, chimique et morphologique des poudres, en mettant l'accent sur la précision de l'échantillonnage et le contrôle de la qualité.
Explore la diffraction de Fresnel et de Fraunhofer, les observations en champ proche et lointain, la mise au point des lentilles et la diffraction des rayons X par les cristaux.
Couvre la caractérisation de la taille des particules dans les poudres, en mettant l'accent sur des techniques telles que la diffraction laser et la sédimentation.
Couvre les techniques de conception avancées pour les caméras CMOS, en se concentrant sur l'architecture des pixels et la gestion du bruit dans les capteurs de pixels actifs.
Couvre les capteurs d'images optiques, la limite d'Abbe, les pixels de sous-résolution, les microlentilles, le vignettage et les détecteurs monophotons, y compris les aspects de métrologie SPAD.
