Imagerie à faible dose des matières sensibles aux faisceaux

Cette séance de cours couvre les défis des matériaux sensibles aux faisceaux d'imagerie utilisant des techniques STEM 2D et 4D à faible dose, en mettant l'accent sur les perovskites hybrides. Il traite des principes de la 4D STEM, du contrôle de dose et du traitement intelligent des données pour l'extraction des signaux. La présentation explore les effets des dommages causés par les faisceaux sur les matériaux, les processus de croissance et l'utilisation de détecteurs pixelisés pour une détection efficace. De plus, il se penche sur l'application de la ptychographie pour réaliser l'imagerie par résolution d'atomes et les méthodes de reconstruction des nanostructures complexes. La séance de cours se termine par une discussion sur les fonctions de transfert optimales, le spectre signal-bruit, et les avantages des fonctions de transfert normalisées par bruit en ptychographie.