Microscopie par sonde de balayage : bases et applications

Cette séance de cours couvre les principes fondamentaux de la microscopie à sonde à balayage, y compris la microfabrication de nanosondes, les bases de l'oxydation thermique, l'affûtage des pointes par oxydation et divers types de pointes utilisées dans l'AFM telles que les pointes moulées, les pointes modifiées par faisceau d'ions focalisées, les pointes magnétiques, les pointes de nanotubes de carbone et l'AFM à grande vitesse. Il traite également de l'imagerie de force latérale AFM, AFM mode sans contact, microscopie de force sans contact, tunneling vs force dans AFM, et les limites du mode AFM le plus largement utilisé. L'instructeur souligne l'importance de comprendre les principes sous-jacents à ces techniques pour une imagerie et une manipulation à l'échelle nanométrique réussies.