Explore les principes et les applications de la tomographie, y compris les techniques de microscopie 3D et la reconstruction de matériaux au niveau atomique.
Explore les encorbellements à détection automatique dans la microscopie par sonde à balayage et les avantages des systèmes capteurs-actionneurs intégrés pour la collecte de données à grande vitesse.
Explore les fondamentaux de la microscopie à sonde à balayage, les types de pointes et les modes AFM pour l'imagerie et la manipulation à l'échelle nanométrique.
Couvre les principes et les applications de la microscopie de la force atomique (AFM) pour la métrologie à l'échelle nanométrique, y compris les modes d'imagerie, les interactions tip-sample et le traitement de l'image.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM), les détecteurs, les mécanismes de contraste et les applications en imagerie haute résolution.