Cours

MSE-677: Advanced Microscopy for Materials

Résumé

This course provides an overview of advanced materials characterization techniques, focusing on modern Scanning Electron Microscopy (SEM) combined with Focused Ion Beam (FIB) systems (dual-beam), as well as Transmission Electron Microscopy (TEM) and Atom Probe Tomography (APT).

Séances de cours

Enseignant·e·s (2)

Xavier Maeder

Enseignement et PhD Doctorant·es actuel·les Samuel Felix Bojarski, Kamila Elzbieta Hamulka, Philipp Konrad Clewie Kroeker A co-dirigé les thèses EPFL de Nicolò Maria Della Ventura Cours Advanced Microscopy for Materials MSE-677 X-Ray Analysis for thin films MSE-627

Lorenz Herrmann

Enseignement et PhD Cours Advanced Microscopy for Materials MSE-677

Source officielle

https://edu.epfl.ch/coursebook/fr/advanced-microscopy-for-materials-MSE-677

Page Moodle

http://go.epfl.ch/MSE-677

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