Explore le développement historique et les applications industrielles de la radiographie et de la tomographie informatisée avec rayons X, gamma et neutrons.
Couvre la spectrométrie de fluorescence X (XRFS), une technique d'analyse chimique utilisant les rayons X émis lorsqu'il est excité par un faisceau primaire de rayons X.
Compare les neutrons et les rayons X dans l'analyse de diffraction, en se concentrant sur leurs niveaux d'énergie, leurs mécanismes d'interaction et leurs capacités de pénétration.
Explore la régression linéaire dans une perspective d'inférence statistique, couvrant les modèles probabilistes, la vérité au sol, les étiquettes et les estimateurs de probabilité maximale.
Couvre la régression linéaire, la régularisation, les problèmes inverses, la tomographie par rayons X, la reconstruction d'images, l'inférence de données et l'intensité du détecteur.
Explore la perspective historique, les propriétés et les applications des rayons X, y compris la diffraction, la résolution atomique et les couleurs spectrales des éléments.
