Couvre la microanalyse par rayons X à dispersion d'énergie, expliquant comment les rayons X révèlent la composition élémentaire et discutant de la génération, de la détection, de l'efficacité et de la quantification des rayons X.
Couvre la microanalyse de rayons X à dispersion d'énergie, explorant la génération, la détection, la quantification et les défis de rayons X dans l'analyse élémentaire précise.
Explore la spectroscopie à rayons X dispersive (EDS) en microscopie électronique, couvrant la génération de rayons X, la détection, la quantification et la cartographie des éléments dans les échantillons.
Explore le réglage de fréquence basé sur le stress dans les dispositifs micro/nanomécaniques, couvrant le rayonnement noir du corps, la non-linéarité optique, NETD, et la gamme dynamique.
Explore NMF guidé par la physique pour l'analyse de données STEM/EDXS, couvrant les défis, l'optimisation, les contraintes et les avantages de la modélisation.
Explore les principes de la tomographie par rayons X, y compris la génération, l'interaction avec la matière, les méthodes de détection et des exemples pratiques.
Explore les progrès de la spectroscopie dispersive à rayons X en microscopie électronique moderne, en mettant l'accent sur la sensibilité analytique et les limites de détection.
Explore les principes fondamentaux de la spectroscopie par photoélectrons à rayons X, les applications, les défis et les techniques de pulvérisation cathodique pour l'analyse de surface.