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Explore la spectroscopie à rayons X dispersive (EDS) en microscopie électronique, couvrant la génération de rayons X, la détection, la quantification et la cartographie des éléments dans les échantillons.
Explore le développement historique de l'optique, la méthode scientifique et la flèche du temps, mettant en évidence les grands changements de paradigme et les différences culturelles entre la religion et la science.
Explore les principes de la tomographie par rayons X, y compris la génération, l'interaction avec la matière, les méthodes de détection et des exemples pratiques.
Explore NMF guidé par la physique pour l'analyse de données STEM/EDXS, couvrant les défis, l'optimisation, les contraintes et les avantages de la modélisation.
Couvre les principes et les applications de la spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie (EDX) dans les méthodes d'analyse élémentaire et de quantification en SEM.
Explore les aspects pratiques de la conception de l'optique primaire dans les lignes de faisceau, en se concentrant sur les miroirs à rayons X et les monochromateurs.
Explore les principes EDS et ESEM, la détection des rayons X, l'efficacité de l'ionisation, la loi de Moseley et les environnements d'échantillons ESEM.
Couvre les principes fondamentaux et les applications de la microanalyse par rayons X à dispersion d'énergie, en expliquant son fonctionnement et ses défis.
Couvre l'analyse chimique à l'aide de la spectrométrie, en se concentrant sur les spectromètres de rayons X et d'électrons, les monochromateurs et les méthodes d'étalonnage.
Explore les technologies de détection des rayons X, y compris les diodes semi-conducteurs et les scintillateurs, pour des applications dans l'imagerie des cellules cancéreuses et la détection des particules.
