Publication

Simultaneous amplitude-contrast and quantitative phase-contrast microscopy by numerical reconstruction of Fresnel off-axis holograms

Christian Depeursinge, Etienne Cuche
1999
Journal Articles

Résumé

We present a digital method for holographic microscopy involving a CCD camera as a recording device. Off-axis holograms recorded with a magnified image of microscopic objects are numerically reconstructed in amplitude and phase by calculation of scalar diffraction in the Fresnel approximation. For phase-contrast imaging the reconstruction method involves the computation of a digital replica of the reference wave. A digital method for the correction of the phase aberrations is presented. We present a detailed description of the reconstruction procedure and show that the transverse resolution is equal to the diffraction limit of the imaging system.

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/f7993be5-0dfa-4866-b17d-5264783ca983

À propos de ce résultat

Cette page est générée automatiquement et peut contenir des informations qui ne sont pas correctes, complètes, à jour ou pertinentes par rapport à votre recherche. Il en va de même pour toutes les autres pages de ce site. Veillez à vérifier les informations auprès des sources officielles de l'EPFL.

Graph Chat

Chattez avec Graph Search

Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.

AVERTISSEMENT : Le chatbot Graph n'est pas programmé pour fournir des réponses explicites ou catégoriques à vos questions. Il transforme plutôt vos questions en demandes API qui sont distribuées aux différents services informatiques officiellement administrés par l'EPFL. Son but est uniquement de collecter et de recommander des références pertinentes à des contenus que vous pouvez explorer pour vous aider à répondre à vos questions.

Christian Depeursinge, Etienne Cuche
1999
Journal Articles

Résumé

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/f7993be5-0dfa-4866-b17d-5264783ca983

À propos de ce résultat

Concepts associés (32)

Phase-contrast imaging

Phase-contrast imaging is a method of that has a range of different applications. It measures differences in the refractive index of different materials to differentiate between structures under analysis. In conventional light microscopy, phase contrast can be employed to distinguish between structures of similar transparency, and to examine crystals on the basis of their double refraction. This has uses in biological, medical and geological science.

Phase-contrast X-ray imaging

Phase-contrast X-ray imaging or phase-sensitive X-ray imaging is a general term for different technical methods that use information concerning changes in the phase of an X-ray beam that passes through an object in order to create its images. Standard X-ray imaging techniques like radiography or computed tomography (CT) rely on a decrease of the X-ray beam's intensity (attenuation) when traversing the sample, which can be measured directly with the assistance of an X-ray detector.

Microscopie

La microscopie est un ensemble de techniques d' des objets de petites dimensions. Quelle que soit la technique employée, l'appareil utilisé pour rendre possible cette observation est appelé un . Des mots grecs anciens mikros et skopein signifiant respectivement « petit » et « examiner », la microscopie désigne étymologiquement l'observation d'objets invisibles à l'œil nu. On distingue principalement trois types de microscopies : la microscopie optique, la microscopie électronique et la microscopie à sonde locale.

Afficher plus

Publications associées (10)

Afficher plus

Simultaneous amplitude-contrast and quantitative phase-contrast microscopy by numerical reconstruction of Fresnel off-axis holograms

Chattez avec Graph Search

Structured Random Models for Phase Retrieval with Optical Diffusers

A Digital History of the Internationalization of Patent Systems

Mass diffusion and bending in dynamic wetting by phase-field and sharp-interface models