Publication

Substrate current modeling for high-voltage smart power BCD technology

Maher Kayal, François Krummenacher, Marc Pastre, Fabrizio Lo Conte
2008
Conference Papers

Résumé

This paper presents a compact- and a macro-model for estimating and simulating the perturbations induced in the substrate by high-voltage transistors switching inductive loads. On one hand, it allows the designer to predict the amount of switching noise generated by a particular topology. On the other hand, it enables a wise choice of the positioning of sensitive low-voltage circuits around the noisy devices, as well as the choice of appropriate shielding structures. The models proposed are validated by measurements on a prototype circuit at 25°C. © 2008 IEEE.

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/df58a5c4-a29e-431b-a715-1806aa997baa

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