Publication

Valence changes in YbAl2 under pressure: a resonant inelastic X-ray emission study

Marco Grioni
2004
Journal Articles

Résumé

We used X-ray absorption in the partial fluorescence yield mode (PFY-XAS), and resonant X-ray emission (RXES) to study the pressure dependence of Yb valence in the intermediate valence compound YbAl2. We find that the Yb valence changes from 2.25 at ambient pressure to 2.95 at 385 kbar, and that the valence transition is completed around 200 kbar. The combined use of complementary spectroscopic techniques considerably reduces the uncertainties in the extracted valence values. (C) 2004 Elsevier B.V. All rights reserved.

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/ce19304e-6dfc-47be-a50b-90c87003709b

À propos de ce résultat

Cette page est générée automatiquement et peut contenir des informations qui ne sont pas correctes, complètes, à jour ou pertinentes par rapport à votre recherche. Il en va de même pour toutes les autres pages de ce site. Veillez à vérifier les informations auprès des sources officielles de l'EPFL.

Graph Chat

Chattez avec Graph Search

Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.

AVERTISSEMENT : Le chatbot Graph n'est pas programmé pour fournir des réponses explicites ou catégoriques à vos questions. Il transforme plutôt vos questions en demandes API qui sont distribuées aux différents services informatiques officiellement administrés par l'EPFL. Son but est uniquement de collecter et de recommander des références pertinentes à des contenus que vous pouvez explorer pour vous aider à répondre à vos questions.

Marco Grioni
2004
Journal Articles

Résumé

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/ce19304e-6dfc-47be-a50b-90c87003709b

À propos de ce résultat

Concepts associés (32)

Spectroscopie des rayons X

La spectroscopie des rayons X rassemble plusieurs techniques de caractérisation spectroscopique de matériaux par excitation par rayons X. Trois familles de techniques sont le plus souvent utilisées. Selon les phénomènes mis en jeu, on distingue trois classes : L'analyse se fait par l'une des deux méthodes suivantes : analyse dispersive en énergie (Energy-dispersive x-ray analysis (EDXA) en anglais) ; analyse dispersive en longueur d'onde (Wavelength dispersive x-ray analysis (WDXA) en anglais).

Électron de valence

Un électron de valence est un électron situé dans la couche de valence d'un atome. Les propriétés physiques d'un élément sont largement déterminées par leur configuration électronique, notamment la configuration de la couche de valence. La présence d'un ou plusieurs électrons de valence joue un rôle important dans cette définition des car elle permet de déterminer la valence . Lorsqu'un atome a une couche de valence incomplète, il peut partager ou donner des électrons de valence avec d'autres atomes pour remplir sa couche externe et former une liaison chimique stable.

Spectrométrie de fluorescence des rayons X

thumb|Analyseur portatif (Olympus Delta Professional XRF donnant la quantité de contaminants métalliques ou métalloïdes dans le sol. contaminants préoccupants recherchés sont ici le plomb, le mercure, le cadmium et l'arsenic. La spectrométrie de fluorescence des rayons X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une technique d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X.

Afficher plus

Publications associées (15)

Afficher plus

Valence changes in YbAl2 under pressure: a resonant inelastic X-ray emission study

Chattez avec Graph Search

Coordination nanoarchitectonics with synergistic X-ray photonics: coupled photochromism and luminescence modulation for intelligent radiation-responsive materials

Multiscale structural analysis of nacre-like HAp-based composites using small-angle X-ray scattering tensor tomography

A lanthanum bromide detector of runaway electrons for TCV