Publication

A Methodology for Reliability Enhancement of Nanometer- Scale Digital Systems Based on A-Priori Functional Fault- Tolerance Analysis

Yusuf Leblebici, Alexandre Schmid
2007
Book Chapters

Résumé

This paper presents a new approach for monitoring and estimating device reliability of nanometer-scale devices prior to fabrication. A four-layer architecture exhibiting a large immunity to permanent as well as random failures is used. A complete tool for a-priori functional fault tolerance analysis was developed. It is a statistical Monte Carlo based tool that induces different failure models, and does subsequent evaluation of system reliability under realistic constraints. A structured fault modeling architecture is also proposed, which is together with the tool a part of the new design method where reliability is considered as a central focus from an early development stage.

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/abaf506e-1b38-4846-80d4-e4a4ca2a6997

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Concepts associés (32)

Taux de défaillance

Le taux de défaillance, ou taux de panne, est une expression relative à la fiabilité des équipements et de chacun de leurs composants. Son symbole est la lettre grecque λ (lambda). Le taux de défaillance d'un équipement à l'instant t est la limite, si elle existe, du quotient de la probabilité conditionnelle que l'instant T de la (première) défaillance de cet équipement soit compris dans l'intervalle de temps donné [t, t + Δt] par la durée Δt de cet intervalle, lorsque Δt tend vers zéro, en supposant que l'entité soit disponible au début de l'intervalle de temps.

Circuit intégré

Le circuit intégré (CI), aussi appelé puce électronique, est un composant électronique, basé sur un semi-conducteur, reproduisant une ou plusieurs fonctions électroniques plus ou moins complexes, intégrant souvent plusieurs types de composants électroniques de base dans un volume réduit (sur une petite plaque), rendant le circuit facile à mettre en œuvre. Il existe une très grande variété de ces composants divisés en deux grandes catégories : analogique et numérique.

Ingénierie de fiabilité

L'ingénierie de fiabilité est un domaine de l'ingénierie, qui traite de l'étude, de l'évaluation et du Product Lifecycle Management de la fiabilité : l'habilité d'un système ou d'un composant à remplir ses fonctions exigées dans des conditions déterminées pour une période de temps déterminé. L'ingénierie de fiabilité est une sous-discipline au sein de l'ingénierie des systèmes. La fiabilité est souvent mesurée en probabilité de défaillance, fréquence de défaillance, ou en termes de disponibilité, une probabilité dérivée de la fiabilité et de la maintenabilité.

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