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We report the near-edge x-ray absorption fine-structure (NEXAFS) spectrum of a single layer of graphite (graphene) obtained by micromechanical cleavage of highly ordered pyrolytic graphite on a SiO2 substrate. We utilized a photoemission electron microscope to separately study single-, double-, and few-layers graphene samples. In single- layer graphene we observe a splitting of the pi* resonance and a clear signature of the predicted interlayer state. The NEXAFS data illustrate the rapid evolution of the electronic structure with the increased number of layers.
Kumar Varoon Agrawal, Kangning Zhao, Luis Francisco Villalobos Vazquez de la Parra, Heng-Yu Chi, Shaoxian Li, Kuang-Jung Hsu, Mojtaba Chevalier, Wan-Chi Lee
Kumar Varoon Agrawal, Kangning Zhao, Heng-Yu Chi, Kuang-Jung Hsu, Mojtaba Chevalier, Yueqing Shen, Shuqing Song, Zongyao Zhou