Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.
AVERTISSEMENT : Le chatbot Graph n'est pas programmé pour fournir des réponses explicites ou catégoriques à vos questions. Il transforme plutôt vos questions en demandes API qui sont distribuées aux différents services informatiques officiellement administrés par l'EPFL. Son but est uniquement de collecter et de recommander des références pertinentes à des contenus que vous pouvez explorer pour vous aider à répondre à vos questions.
The rear side of a silicon solar cell is often designed to minimize surface recombination, series resistance, and cost, but not necessarily parasitic absorption. We present a comprehensive study of parasitic absorption in the metal layer of solar cells with dielectric/metal rear reflectors. The sub-bandgap reflectance of a solar cell or test structure is proposed as an experimentally accessible probe of parasitic absorption, and it is correlated with short-circuit current density. The influence of surface texture, dielectric refractive index and thickness, and metal refractive index on sub-bandgap reflectance-and thus current is then both calculated and measured. From the results, we formulate design rules that promote optimum infrared response in a wide variety of silicon solar cells. (C) 2013 Elsevier B.V. All rights reserved.
Christophe Ballif, Aïcha Hessler-Wyser, Antonin Faes, Umang Bhupatrai Desai, Kléber Nicolet-dit-Félix
Christophe Ballif, Alessandro Francesco Aldo Virtuani, Luca Gnocchi