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In this paper, we review some of the main methods to characterize on-state and off-state losses in wide-band-gap devices under switching conditions. In the off-state, we will discuss about losses related to charging and discharging the output capacitance in wide-band-gap devices, both in hard- and soft-switching. In the on-state, we will present an accurate measurement of dynamic on-resistance degradation, particularly in Gallium Nitride (GaN) devices. These losses are typically not described in data-sheets, but can be a dominant loss mechanism in power electronic applications.
Tobias Kippenberg, Johann Emmeram Riemensberger, Rui Ning Wang, Anat Siddharth, Andrey Voloshin, Simone Bianconi, Andrea Bancora, Vladimir Shadymov
Sandro Carrara, Diego Ghezzi, Gian Luca Barbruni