Publication

Single molecule fluorescence resonance energy transfer scanning near-field optical microscopy

Giovanni Dietler, Serguei Sekatski
2008
Journal Articles

Résumé

The first single molecule fluorescence resonant energy transfer scanning near-field optical microscope (FRET SNOM) images of CdSe nanocrystal (donor) deposited onto the glass slide surface are presented. Images were obtained using the earlier proposed FRET SNOM probes which are 30-100 nm thick polymer layers stained with the acceptor dye molecules coated onto the apex of the standard sharp aperture SNOM tip. An original SNOM construction enabling very fast scanning was used to overcome the photostability problem. (c) 2007 Elsevier B.V. All rights reserved.

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/72e6fd8b-8890-449a-828e-e711e2d9d853

À propos de ce résultat

Cette page est générée automatiquement et peut contenir des informations qui ne sont pas correctes, complètes, à jour ou pertinentes par rapport à votre recherche. Il en va de même pour toutes les autres pages de ce site. Veillez à vérifier les informations auprès des sources officielles de l'EPFL.

Graph Chat

Chattez avec Graph Search

Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.

AVERTISSEMENT : Le chatbot Graph n'est pas programmé pour fournir des réponses explicites ou catégoriques à vos questions. Il transforme plutôt vos questions en demandes API qui sont distribuées aux différents services informatiques officiellement administrés par l'EPFL. Son but est uniquement de collecter et de recommander des références pertinentes à des contenus que vous pouvez explorer pour vous aider à répondre à vos questions.

Single molecule fluorescence resonance energy transfer scanning near-field optical microscopy

Chattez avec Graph Search

Plasmonic Nanostructures for Photocatalysis: Material, Photonic and Electronic Effects

Investigation of room-temperature single-photon emitters in GaN-based materials and GaN/AlN quantum dots

Iterative reconstruction methods and the resolution principle for fast-ion loss detector measurements