Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.
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Uneven illumination affects every image acquired by a microscope. It is often overlooked, but it can introduce considerable bias to image measurements. The most reliable correction methods require special reference images, and retrospective alternatives do not fully model the correction process. Our approach overcomes these issues for most optical microscopy applications without the need for reference images.
Edoardo Charbon, Claudio Bruschini