MicrolentilleUne microlentille est une petite lentille, généralement d'un diamètre inférieur au millimètre et pouvant atteindre une dizaine de micromètres. Étant donné la petite taille de ces objets, ils peuvent être sujet à des phénomènes de diffraction optique. L'une des géométries les plus communes pour ces microlentilles est de type plan-convexe (l'une de ces surfaces est plane et l'autre convexe) mais il existe aussi des lentilles à gradient d'indice utilisant la variation de l'indice de réfraction du matériau qui les compose pour réaliser la focalisation de la lumière.
Microscope à effet tunnelthumb|Atomes de silicium à la surface d'un cristal de carbure de silicium (SiC). Image obtenue à l'aide d'un STM. Le microscope à effet tunnel (en anglais, scanning tunneling microscope, STM) est inventé en 1981 par des chercheurs d'IBM, Gerd Binnig et Heinrich Rohrer, qui reçurent le prix Nobel de physique pour cette invention en 1986. C'est un microscope en champ proche qui utilise un phénomène quantique, l'effet tunnel, pour déterminer la morphologie et la densité d'états électroniques de surfaces conductrices ou semi-conductrices avec une résolution spatiale pouvant être égale ou inférieure à la taille des atomes.
Microscopie électronique à balayagethumb|right|Premier microscope électronique à balayage par M von Ardenne thumb|right|Microscope électronique à balayage JEOL JSM-6340F thumb|upright=1.5|Principe de fonctionnement du Microscope Électronique à Balayage La microscopie électronique à balayage (MEB) ou scanning electron microscope (SEM) en anglais est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière.
