Publication

Average structure of cubic lazurite with a three-dimensional incommensurate modulation

Gervais Chapuis
2002
Journal Articles

Résumé

Three-dimensional incommensurately modulated cubic lazurite from the Malo-Bystrinskoe deposit (the Baikal region) was studied by the methods of X-ray diffraction analysis. The a parameter of the cubic unit cell is 9.077(1) Angstrom. The calculations performed within the sp. gr. P23 (R = 0.056, 309 independent reflections) provided detailed information on the average structure of the mineral (the satellite reflections were ignored). (C) 2002 MAIK "Nauka/Interperiodica".

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/25900eae-2350-477a-ab92-28ffbb3ca9aa

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La cristallographie aux rayons X, radiocristallographie ou diffractométrie de rayons X (DRX, on utilise aussi souvent l'abréviation anglaise XRD pour X-ray diffraction) est une technique d'analyse fondée sur la diffraction des rayons X par la matière, particulièrement quand celle-ci est cristalline. La diffraction des rayons X est une diffusion élastique, c'est-à-dire sans perte d'énergie des photons (longueurs d'onde inchangées), qui donne lieu à des interférences d'autant plus marquées que la matière est ordonnée.

Système cristallin cubique

En cristallographie, le système cristallin cubique (ou isométrique) est un système cristallin qui contient les cristaux dont la maille élémentaire est cubique, c'est-à-dire possédant quatre axes ternaires de symétrie. Il existe trois types de telles structures : cubique simple, cubique centrée et cubique à faces centrées. Classe cristalline Le tableau ci-dessous fournit les numéros de groupe d'espace des tables internationales de cristallographie du système cristallin cubique, les noms des classes cristallines, les notations Schoenflies, internationales, et des groupes ponctuels, des exemples, le type et les groupes d'espace.

Diffraction de poudre

vignette|320x320px|Paterne de poudre d'électron (rouge) d'un film d'aluminium avec une superposition de spirales (vert) et une ligne d'intersection (bleue) qui détermine le paramètre de réseau. La diffraction de poudre est une technique scientifique utilisant la diffraction aux rayons X, la diffraction de neutrons ou la diffraction des électrons sur des échantillons en poudre ou micro-cristallins pour la caractérisation structurale de matériaux. L'instrument dédié à l'exécution de ces mesures est appelé un diffractomètre de poudre.

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