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Anton Smirnov

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Scanning near-field optical microscopy with new probes and feedback modes

Anton Smirnov

Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM) technique enables to overcome Abbe diffraction limit of far-field optics as well as to obtain simultaneously optical and topographical images. While the optical resolution of the method is limited by the apertu ...

EPFL2019

Gap-Plasmon-Enhanced High-Spatial-Resolution Imaging by Photothermal-Induced Resonance in the Visible Range

Giovanni Dietler, Serguei Sekatski, Jiangtao Zhou, Anton Smirnov

Chemical characterization at the nanoscale is of significant importance for many applications in physics, analytical chemistry, material science, and biology. Despite the intensive studies in the infrared range, high-spatial resolution and high-sensitivity ...

AMER CHEMICAL SOC2019

Long-life plastic optical fiber probes for scanning near-field optical microscope

Giovanni Dietler, Serguei Sekatski, Anton Smirnov, Ekaterina Rostova

Nowadays, sharpened glass fiber - made probes attached to a quartz tuning fork (TF) and exploiting the shear force - based feedback are by far the most popular in the field of SNOM. These probes are expensive, very fragile and their fabrication is difficul ...

SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING2018