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Séance de cours

Principe du SIMS

Dans cours

MSE-351: Surface analysis

The course treats the main surface analysis methods for the characterization of surfaces, interfaces and thin films. It discusses how these methods can be applied to gain specific knowledge about structural, chemical and functional properties of surfaces a ...

Description

Cette séance de cours couvre le principe de la spectrométrie de masse par ions secondaires (SIMS), expliquant comment une surface est pulvérisée avec un faisceau d'ions primaires pour analyser les ions secondaires avec un spectromètre de masse. Les sujets abordés comprennent le spectre de masse, le profil de profondeur, les interférences de masse, les modes de fonctionnement, le rendement de pulvérisation cathodique, le rendement d'ionisation et des exemples d'applications SIMS.

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Enseignant·e·s (3)

Anna Neus Igual Muñoz

Stefano Mischler

Stefano Mischler obtained the diploma in materials science in 1983 at the Swiss Federal Institute of Technology ETHZ in Zurich. He accomplished his PhD thesis in the field of surface analysis and corrosion at the Materials department of the Swiss Federal Institute of Technology EPFL in Lausanne in 1988. In the years 1989-1990 he held a postdoctoral position at the United Kingdom Atomic Energy Establishment in Harwell (Oxfordshire) where he developed novel quantification procedures for Auger Electron Spectroscopy and high lateral resolution surface analytical methods for fiber reinforced ceramics. In 1991 he joined the newly created Tribology group at the Laboratory for Metallurgical Chemistry of the EPFL where he developed research activities in the field of wear-corrosion interactions (tribocorrosion) and of tribological coatings. He is currently head of the tribology group and is developing a reserach and training activity devoted to modern aspects of tribology and surface science and technology, including surface chemical effects in tribology, biotribology and biocorrosion, tribology in microfabrication processes and wear protection methods. In 2006 he spent a sabbatical leave of 3 months at the Tokyo Medical and Dental University, Institute of Biomaterials.

Igor Stolichnov

Source officielle

Proximité ontologique

Chimie

Chimie analytique: Spectrométrie de masse

Concepts associés (32)

Spectrométrie de masse

thumb|right|Spectromètre de masse La spectrométrie de masse est une technique physique d'analyse permettant de détecter et d'identifier des molécules d’intérêt par mesure de leur masse, et de caractériser leur structure chimique. Son principe réside dans la séparation en phase gazeuse de molécules chargées (ions) en fonction de leur rapport masse/charge (m/z). Elle est utilisée dans pratiquement tous les domaines scientifiques : physique, astrophysique, chimie en phase gazeuse, chimie organique, dosages, biologie, médecine, archéologie.

Spectrométrie de masse des ions secondaires

La spectrométrie de masse des ions secondaires est un procédé d'analyse de surface connu sous le nom de SIMS, d'après l'acronyme anglais signifiant secondary ion mass spectrometry, qui consiste à bombarder la surface de l'échantillon à analyser avec un faisceau d'ions. L'échantillon est alors pulvérisé, et une partie de la matière pulvérisée est ionisée. Ces ions secondaires sont alors accélérés vers un spectromètre de masse qui permettra de mesurer la composition élémentaire, isotopique ou moléculaire de la surface de l'échantillon.

Quadrupole mass analyzer

In mass spectrometry, the quadrupole mass analyzer (or quadrupole mass filter) is a type of mass analyzer originally conceived by Nobel laureate Wolfgang Paul and his student Helmut Steinwedel. As the name implies, it consists of four cylindrical rods, set parallel to each other. In a quadrupole mass spectrometer (QMS) the quadrupole is the mass analyzer - the component of the instrument responsible for selecting sample ions based on their mass-to-charge ratio (m/z).

Ion source

An ion source is a device that creates atomic and molecular ions. Ion sources are used to form ions for mass spectrometers, optical emission spectrometers, particle accelerators, ion implanters and ion engines. Electron ionization Electron ionization is widely used in mass spectrometry, particularly for organic molecules. The gas phase reaction producing electron ionization is M{} + e^- -> M^{+\bullet}{} + 2e^- where M is the atom or molecule being ionized, e^- is the electron, and M^{+\bullet} is the resulting ion.

Spectromètre de masse à temps de vol

La spectrométrie à temps de vol (TOF-MS, selon l'acronyme anglais en) est une méthode de spectrométrie de masse dans laquelle les ions sont accélérés par un champ électrique de valeur connue. Il résulte de cette accélération que les ions de même charge électrique acquièrent la même quantité de mouvement. La vitesse des ions, par contre, dépend du rapport masse sur charge. On mesure le temps mis par une particule chargée pour atteindre un détecteur situé à une distance connue.

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Séances de cours associées (31)

Spectrométrie de masse : Sources et analyseurs d'ions

Sur la spectrométrie de masse explore les principes d'ionisation, les techniques de tri de masse et divers analyseurs de masse.

Spectrométrie de masse: Analyser des peptides avec Tandem MS

Couvre la spectrométrie de masse et les techniques tandem MS / MS pour l'analyse peptidique, en se concentrant sur l'ionisation, la fragmentation et l'identification de la séquence.

Spectrométrie de masse : Détecteurs et techniques

Explore les détecteurs de spectrométrie de masse, MS/MS et diverses techniques de détection et d'analyse des ions.

Spectrométrie de masse: Techniques et applications

Explore les techniques de spectrométrie de masse pour l'analyse moléculaire et l'identification des protéines par des profils isotopiques et des modèles de fragmentation.

Méthodes de profilage en protéomique

Explore les méthodes de profilage protéomique, y compris les approches ABPP, MS et l'identification quantitative des cibles à l'aide de l'étiquetage SILAC et TMT.

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Spectrométrie de masse

Spectrométrie de masse des ions secondaires

Quadrupole mass analyzer

Ion source

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