Intégration à très grande échelleL'intégration à très grande échelle (ou VLSI pour Very-Large-Scale Integration en anglais) est une technologie de circuit intégré (CI) dont la densité d'intégration permet de supporter plus de 100 000 composants électroniques sur une même puce. Elle a été réalisée pour la première fois dans les années 1980, dans le cadre du développement des technologies des semi-conducteurs et des communications. Les premières puces à semi-conducteurs supportaient un seul transistor chacune.
Test driven developmentTest-Driven Development (TDD), ou développement piloté par les tests en français, est une méthode de développement de logiciel qui consiste à concevoir un logiciel par des itérations successives très courtes (ou petits pas), telles que chaque itération est accomplie en formulant un sous-problème à résoudre sous forme d'un test avant d'écrire le code source correspondant, et où le code est continuellement remanié dans une volonté de simplification. À l'origine, il s'agissait simplement d'écrire les tests avant de coder, et cette méthode s'appelait le Test-First Design.
Test d'intégrationDans le monde du développement informatique, L'objectif de chaque phase de test est de détecter les erreurs qui n'ont pas pu être détectées lors de la précédente phase. Pour cela, le test d’intégration a pour cible de détecter les erreurs non détectables par le test unitaire. Le test d’intégration permet également de vérifier l'aspect fonctionnel, les performances et la fiabilité du logiciel. L'intégration fait appel en général à un système de gestion de versions, et éventuellement à des programmes d'installation.
Test de validationUn test de validation est un type de test informatique qui permet de vérifier si toutes les exigences client, décrites dans le document de spécification du logiciel, sont respectées. Les tests de validation se décomposent généralement en plusieurs phases : Validation fonctionnelle : les tests fonctionnels assurent que les différents modules ou composants implémentent correctement les exigences client. Ces tests peuvent être de type valide, invalide, inopportuns, etc.
User experience designUser experience design (UX design, UXD, UED, or XD) is the process of defining the experience a user would go through when interacting with a company, its services, and its products. Design decisions in UX design are often driven by research, data analysis, and test results rather than aesthetic preferences and opinions. Unlike user interface design, which focuses solely on the design of a computer interface, UX design encompasses all aspects of a user's perceived experience with a product or website, such as its usability, usefulness, desirability, brand perception, and overall performance.
API testingAPI testing is a type of software testing that involves testing application programming interfaces (APIs) directly and as part of integration testing to determine if they meet expectations for functionality, reliability, performance, and security. Since APIs lack a GUI, API testing is performed at the message layer. API testing is now considered critical for automating testing because APIs now serve as the primary interface to application logic and because GUI tests are difficult to maintain with the short release cycles and frequent changes commonly used with Agile software development and DevOps.
Model-based testingvignette|Diagramme du model-based testing Le model-based testing (MBT) est une activité qui permet de concevoir et de dériver (de manière automatique ou non) des cas de tests à partir d'un modèle abstrait et haut niveau du système sous test (SUT). Le modèle est dit abstrait car il offre bien souvent une vue partielle et discrète des comportements attendus d'un logiciel ou d'un système. Sur la base de modèles abstraits, des cas de test peuvent être dérivées sous la forme de suites de tests.
Transistor countThe transistor count is the number of transistors in an electronic device (typically on a single substrate or "chip"). It is the most common measure of integrated circuit complexity (although the majority of transistors in modern microprocessors are contained in the cache memories, which consist mostly of the same memory cell circuits replicated many times). The rate at which MOS transistor counts have increased generally follows Moore's law, which observed that the transistor count doubles approximately every two years.
Transistorvignette|Quelques modèles de transistors. Le transistor est un composant électronique à semi-conducteur permettant de contrôler ou d'amplifier des tensions et des courants électriques. C'est le composant actif le plus important des circuits électroniques aussi bien en basse qu'en haute tension : circuits logiques (il permet, assemblé avec d'autres, d'effectuer des opérations logiques pour des programmes informatiques), amplificateur, stabilisateur de tension, modulation de signal Les transistors revêtent une importance particulière dans les circuits intégrés, ce qui rend possible la microélectronique.
CoûtUn coût est la mesure d'une consommation exprimée en valeur monétaire. On peut dire également que c'est la mesure de l'appauvrissement d'un agent économique, associé à un événement ou une action de nature économique. Les comptables définissent plus précisément le coût comme une somme de charges (la charge mesure une consommation), c'est-à-dire un calcul. Il est alors possible de calculer toutes sortes de coûts (coût de revient, coût de production, coût marginal, etc.).
Multi-chip moduleA multi-chip module (MCM) is generically an electronic assembly (such as a package with a number of conductor terminals or "pins") where multiple integrated circuits (ICs or "chips"), semiconductor dies and/or other discrete components are integrated, usually onto a unifying substrate, so that in use it can be treated as if it were a larger IC. Other terms for MCM packaging include "heterogeneous integration" or "hybrid integrated circuit".
Communication interauriculairethumb|Cœur normal La communication interauriculaire (CIA) (en anglais, atrial septal defect : ASD) ou inter-atriale est une malformation cardiaque congénitale fréquente. Elle correspond à la persistance d'une déhiscence dans le septum interauriculaire (cloison qui sépare les deux oreillettes), normalement hermétique après la naissance. Cette communication anormale est responsable de l'apparition d'un shunt gauche-droit: une partie du sang revenant des poumons dans l'oreillette gauche regagne directement les poumons (via la CIA et l'oreillette droite) en court-circuitant la grande circulation.
