Techniques de caractérisation morphologique des polymères: AFM Partie 2

Cette séance de cours explore les techniques avancées de caractérisation morphologique des polymères à l'aide de la microscopie à force atomique (AFM). Il couvre des sujets tels que l'imagerie en mode sans contact, les forces d'interaction, la fréquence de résonance du porte-à-faux et les défis du maintien d'une distance constante entre la pointe et l'échantillon. La séance de cours explore également l'utilisation de l'AFM dans différents modes de taraudage, l'impact des propriétés des spécimens sur le déphasage et la complexité de l'interprétation des images de phase. En outre, il discute des sources de dissipation d'énergie, des modèles réalistes pour le contraste de phase et de l'importance des courbes de distance de phase dans le contact intermittent AFM. La séance de cours se termine par des exemples de pointes aiguisées et les limites et avantages de l'AFM dans la caractérisation des polymères.