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XPS: Techniques d'analyse de surface

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Dans cours

MSE-351: Surface analysis

The course treats the main surface analysis methods for the characterization of surfaces, interfaces and thin films. It discusses how these methods can be applied to gain specific knowledge about structural, chemical and functional properties of surfaces a ...

Description

Cette séance de cours couvre les principes et les applications de la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS) pour l'analyse de surface. Il explique la mesure des propriétés de surface telles que la composition chimique, la morphologie et les propriétés telles que les caractéristiques thermodynamiques et électriques. La séance de cours détaille le processus d'analyse XPS, y compris le principe de XPS, les exigences de vide, les sources de rayons X et l'étalonnage des échelles d'énergie. Il traite également de l'importance des échantillons propres, du rôle des pompes à vide et des considérations de conception pour les chambres à vide. En outre, il explore l'interprétation des spectres XPS, les méthodes de soustraction de fond et les techniques de profilage de profondeur utilisées dans l'analyse XPS.

Enseignant·e·s (3)

Stefano Mischler

Stefano Mischler obtained the diploma in materials science in 1983 at the Swiss Federal Institute of Technology ETHZ in Zurich. He accomplished his PhD thesis in the field of surface analysis and corrosion at the Materials department of the Swiss Federal Institute of Technology EPFL in Lausanne in 1988. In the years 1989-1990 he held a postdoctoral position at the United Kingdom Atomic Energy Establishment in Harwell (Oxfordshire) where he developed novel quantification procedures for Auger Electron Spectroscopy and high lateral resolution surface analytical methods for fiber reinforced ceramics. In 1991 he joined the newly created Tribology group at the Laboratory for Metallurgical Chemistry of the EPFL where he developed research activities in the field of wear-corrosion interactions (tribocorrosion) and of tribological coatings. He is currently head of the tribology group and is developing a reserach and training activity devoted to modern aspects of tribology and surface science and technology, including surface chemical effects in tribology, biotribology and biocorrosion, tribology in microfabrication processes and wear protection methods. In 2006 he spent a sabbatical leave of 3 months at the Tokyo Medical and Dental University, Institute of Biomaterials.

Igor Stolichnov

Igor Stolichnov received his Master degree in solid state physics at Saint Petersburg State Polytechnical University in 1994. In 1996 he joined EPFL, where he was awarded PhD in 2000 for his work on ferroelectric non-volatile memories. Currently he is a senior scientist, member of staff of Nanoelectronic devices laboratory, EPFL. His scientific interests are focused on functional materials and their applications for information processing in energy-efficient circuitry, including ferroelectrics, dielectrics,

Anna Neus Igual Muñoz

Enseignement et PhD Doctorant·es actuel·les Quentin Gérard Jean-Charles Ursule A co-dirigé les thèses EPFL de Marian Nida Sagarino Lumongsod-Thompson Cours CCMX Tribology and Surfaces Interactions MSE-667 Characterization of Materials 2025 MSE-716 Corrosion et protection des métaux + TP MSE-311 Ce cours d'introduction à la corrosion veut familiariser l'étudiant avec les mécanismes réactionnels de la corrosion, avec les différentes formes de corrosion et avec

Source officielle

Concepts associés (32)

Spectrométrie photoélectronique X

vignette|upright=1.4|Machine XPS avec un analyseur de masse (A), des lentilles électromagnétiques (B), une chambre d'ultra-vide (C), une source de rayon X (D) et une pompe à vide (E) La spectrométrie photoélectronique X, ou spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X (en anglais, X-Ray photoelectron spectrometry : XPS) est une méthode de spectrométrie photoélectronique qui implique la mesure des spectres de photoélectrons induits par des photons de rayon X.

Spectroscopie photoélectronique

La spectroscopie photoélectronique (photoelectron spectroscopy, PES) ou spectroscopie de photoémission (photoemission spectroscopy) est un ensemble de méthodes spectroscopiques basées sur la détection d'électrons émis par des molécules après le bombardement de celle-ci par une onde électromagnétique monochromatique. Cette spectroscopie fait partie des méthodes de spectroscopie électronique. Elle est utilisée pour mesurer l'énergie de liaison des électrons dans la matière, c'est-à-dire à sonder les états occupés.

Auger electron spectroscopy

Auger electron spectroscopy (AES; pronounced oʒe in French) is a common analytical technique used specifically in the study of surfaces and, more generally, in the area of materials science. It is a form of electron spectroscopy that relies on the Auger effect, based on the analysis of energetic electrons emitted from an excited atom after a series of internal relaxation events. The Auger effect was discovered independently by both Lise Meitner and Pierre Auger in the 1920s.

Composition chimique

La matière étant constituée en général de plusieurs corps purs (composés chimiques et corps simples), la composition chimique d'un produit fournit la quantité ou la proportion de chacun des corps purs qui le composent ; on les appelle de manière générique des composants. On parle de : composition qualitative lorsque l'on se contente simplement d'identifier les composants. Par exemple, l'air est essentiellement composé de diazote et de dioxygène ; composition quantitative lorsqu'on leur adjoint les concentrations, les quantités.

Science des surfaces

La science des surfaces est une section de la science des matériaux consacrée à l'étude des phénomènes physiques et chimiques qui se produisent à l' entre deux phases ou entre une phase et le vide. Les propriétés de la matière en surface sont en effet distinctes de celles du cœur des matériaux (bulk). Par exemple, la coordinence des atomes en surface est inférieure à celle des atomes du reste du matériau ce qui induit une réactivité particulière de ces derniers.

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Détermination de l'épaisseur de film: Analyse XPS

Explique la détermination de l'épaisseur du film à l'aide de techniques XPS et AES, couvrant les principes, l'instrumentation et les comparaisons analytiques.

Spectroscopie par photoélectrons à rayons X: Principes fondamentaux et applications

Explore les principes fondamentaux de la spectroscopie par photoélectrons à rayons X, les applications, les défis et les techniques de pulvérisation cathodique pour l'analyse de surface.

Caractérisation de surface: Spectroscopie par photoélectrons à rayons X

Couvre les principes et les applications de la spectroscopie photoélectronique à rayons X pour la caractérisation de surface.

Analyse chimique : spectrométrie de photoélectrons aux rayons X

Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.

Analyse de surface et SIMS

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