Microscopie de sonde de balayage

Cette séance de cours de l'instructeur couvre les principes et les applications de la microscopie à sonde à balayage (SPM). Il explique le principe de fonctionnement du SPM, y compris le mouvement dans le plan, le mouvement hors plan et l'interaction pointe-échantillon. La séance de cours traite des différents types de systèmes SPM, tels que AFM et Akiyama-Probe, et de leurs applications en imagerie, en mesure et en systèmes multi-sondes. Il se penche également sur la comparaison entre les actionneurs piézotubes et à oxyde de zinc, ainsi que sur les avantages des systèmes de sondes parallèles. En outre, il explore les concepts d'autodétection et d'auto-actionnement des sondes, ainsi que l'utilisation de l'AFM dans l'imagerie d'échantillons photosensibles et la mesure du déplacement. La séance de cours se termine par un résumé de diverses techniques de microscopie à l'échelle nanométrique, y compris la microscopie optique, de fluorescence et confocale.