Dispersion inélastique dans la microscopie électronique de transmission
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Déplacez-vous en double diffraction dans la diffusion dynamique, montrant des points de diffraction pour les plans interdits et le réseau de sphères/reciproques d'Ewald.
Explore les principes EDS et ESEM, la détection des rayons X, l'efficacité de l'ionisation, la loi de Moseley et les environnements d'échantillons ESEM.
Explore la spectroscopie à rayons X dispersive (EDS) en microscopie électronique, couvrant la génération de rayons X, la détection, la quantification et la cartographie des éléments dans les échantillons.
Fournit un aperçu de la carrière et des contributions diverses de l'instructeur à l'EPFL, en soulignant les expériences clés en matière d'enseignement et d'administration.
Explore l'interaction des neutrons avec la matière, couvrant les sections transversales, les taux de réaction, la diffusion, l'absorption, la dépendance énergétique et l'effet Doppler.
Explore l'amplification des impulsions chirpées pour les impulsions laser ultracourtes et l'importance de la stabilisation de la phase Carrier-Envelope.
Couvre les principes de la microscopie électronique à balayage, y compris les signaux SEM, les détecteurs et le spectre d'énergie des électrons, ainsi que l'efficacité de la génération de rayons X.
Couvre les bases de la spectroscopie optique et ses applications dans divers domaines, en explorant la conception et le fonctionnement des spectromètres.
Couvre les approches fondamentales de caractérisation des matériaux solides, en se concentrant sur l'analyse élémentaire, l'analyse thermique, la microscopie et les spectroscopies à base de neutrons.
Couvre la diffusion de Brillouin, un outil puissant en photonique, expliquant l'impact des fluctuations de densité des matériaux sur la lumière et les effets optiques des diffusions inélastiques.
Discute des propriétés des ondes lumineuses et des photons, en se concentrant sur leurs caractéristiques et leurs applications dans les détecteurs optiques.
Explore les méthodes d'analyse de surface à l'aide d'électrons, d'ions, d'atomes et de photons, en soulignant l'importance du ToF-SIMS pour une analyse de surface approfondie dans divers domaines.
