Explore les phénomènes de diffraction, les interférences et les limitations de résolution dans les processus d'imagerie dus aux interférences des ondes.
Discute des interactions onde-matière, en se concentrant sur les phénomènes de diffraction et de diffusion, y compris les principes de réflexion, de réfraction et la signification des interactions rayons X.
Analyse les modèles d'interférence à partir d'un appareil à six fentes pour déterminer la relation entre la largeur et la distance des fentes, en présentant des expressions mathématiques et des représentations graphiques.
Explore la diffraction et les interférences dans de multiples fentes, illustrant la relation entre la séparation des fentes et la longueur d'onde de la lumière.