Double échantillonnage corrélé : solutions In-Pixel

Cette séance de cours traite de la mise en œuvre du double échantillonnage corrélé (CDS) directement dans les structures de pixels des capteurs d'image CMOS. L'instructeur commence par introduire le concept d'une photodiode piégée et sa configuration sans transistor de réinitialisation. La conception comprend une diffusion flottante avec un transistor de réinitialisation et une grille de transmission reliant la photodiode piégée à la diffusion de sortie. L'architecture comporte plusieurs transistors dans le pixel, en particulier huit, pour faciliter le processus CDS. L'instructeur explique le rôle des réservoirs pour la collecte de l'intensité lumineuse et le traitement du signal, en soulignant l'importance de l'électronique de lecture à la base de la colonne. La séance de cours met en évidence les avantages et les inconvénients de l’intégration du CDS dans le pixel, faisant référence à une publication de Guy Meynants qui fournit des informations supplémentaires sur les pixels d’obturation globaux. La discussion encourage les étudiants à s'engager avec le matériel et à prendre en compte les implications de cette conception dans les applications de détection optique.