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Explore les synchrotrons, les lasers d'électrons libres à rayons X et leurs applications dans les spectroscopies photoélectroniques, y compris les variantes PSE à rayons X durs et PSE à pression ambiante.
Explore les synchrotrons, les techniques de rayons X, XPS, XPD, les configurations expérimentales, les déplacements chimiques et les méthodes complémentaires.
Explore les techniques de spectroscopie, les applications et les défis de la spectroscopie sous pression ambiante dans des conditions de réaction réalistes.
Explore les principes fondamentaux de la spectroscopie par photoélectrons à rayons X, les applications, les défis et les techniques de pulvérisation cathodique pour l'analyse de surface.
Couvre les principes et les applications de la spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie (EDX) dans les méthodes d'analyse élémentaire et de quantification en SEM.
Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.
Explore NMF guidé par la physique pour l'analyse de données STEM/EDXS, couvrant les défis, l'optimisation, les contraintes et les avantages de la modélisation.
Explore le développement historique de l'optique, la méthode scientifique et la flèche du temps, mettant en évidence les grands changements de paradigme et les différences culturelles entre la religion et la science.
Explore les techniques avancées de caractérisation des polymères, en mettant l'accent sur les films minces, l'analyse de surface et les études d'interface.
Explore les principes de la spectroscopie à rayons X et à photoélectrons ultraviolets, les applications et les études de cas sur les revêtements de TiO2 et les films dopés.
Explore les méthodes d'analyse de surface à l'aide d'électrons, d'ions, d'atomes et de photons, en soulignant l'importance du ToF-SIMS pour une analyse de surface approfondie dans divers domaines.
