Explore les techniques de caractérisation standard, en se concentrant sur la diffraction des rayons X et son importance dans la détermination des structures cristallines.
Explore la détermination de la structure cristalline en utilisant la diffraction électronique 3D et ses applications en nanocristallographie, mettant l'accent sur les défis et les progrès.
Explore la perspective historique, les propriétés et les applications des rayons X, y compris la diffraction, la résolution atomique et les couleurs spectrales des éléments.
Explore le réseau réciproque dans les systèmes 2D, la diffraction du réseau et des structures atomiques, mettant l'accent sur la dispersion et l'interférence constructive.
Explore les bases de la diffraction électronique, y compris la loi de Bragg, le réseau réciproque et des applications telles que la discrimination en phase cristalline.
Introduit la diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD) dans le SEM pour l'analyse microstructurale de divers matériaux, en mettant l'accent sur la préparation des échantillons et l'indexation des motifs.
Couvre les bases de la cristallographie pour la théorie des électrons, y compris la cellule de Wigner-Seitz, le réseau réciproque et les zones de Brillouin.
Explore la diffraction des rayons X et le rayonnement synchrotron pour la caractérisation du catalyseur, couvrant des techniques telles que la diffraction des poudres et l'estimation de la taille des cristallites.