Explore le phénomène d'interférence dans une expérience à double fente pour déterminer les positions maximales et la séparation, en analysant l'impact de facteurs tels que la longueur d'onde et la largeur de la fente.
Couvre la formation de bandes semi-conductrices et présente des expériences démontrant le comportement des porteurs de charge et la dualité onde-particule dans les électrons.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission (TEM), les mécanismes de contraste, l'identification des dislocations et les méthodes de nettoyage des échantillons pour une imagerie précise.