Présente EBSD et ESEM, couvrant l'acquisition, la préparation d'échantillons, l'indexation, les applications et l'analyse de données, ainsi que le fonctionnement et les avantages d'ESEM.
Couvre l'analyse de modèles de diffraction de surface sélectionnés pour identifier les structures cristallines et calculer les paramètres de la cellule unitaire.
Explore la diffraction des électrons du faisceau convergent, les principes de couverture, l'alignement des échantillons, les effets d'épaisseur et les ressources pour une étude plus approfondie.
Explore le réseau réciproque dans les systèmes 2D, la diffraction du réseau et des structures atomiques, mettant l'accent sur la dispersion et l'interférence constructive.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électroniques, la diffraction, la formation de contraste et la correction de l'astigmatisme.